課程描述INTRODUCTION
SPC課程培訓
日程(cheng)安排SCHEDULE
課程(cheng)大綱Syllabus
SPC課程培訓
課程大綱
1.過程和過程控制 (10分鐘)
2.初識控制圖(5分鐘)
3.控制圖的基本原理 – 揭示SPC的本質(1小時)
.隨機變量
.數據分布
.正態分布
.中心極限定理
.常規控制圖(休哈特控制圖)的建立條件
.受控與失控的統計學解釋
.普通原因與特殊原因
.控制圖為什么(me)能夠發(fa)現(xian)過程的失控
4.計量型數據控制圖(7小時15分鐘)
.概述
.建立控制圖的準備
.獲得管理層的支持,以便配置相應的資源
.人員上的支持
.數據采集和上傳工具
.反饋機制的建立
.確定需要用控制圖控制的特性
.使不必要的變差最小化(已知的,明顯的,可*性糾正的,不必使用控制圖來識別的變差)
.確認測量系統的能力是足夠的
.分析階段控制圖
.概述-本階段的目的
.控制圖的建立的基本步驟(以Xbar-R均值-極差圖為例)
.基本步驟練習
.如何合理地抽樣
.控制圖對抽樣的要求
.從哪里抽樣(不同的情況,包含多生產流的抽樣)
.子組容量
.抽樣頻率
.失控趨勢判斷及解釋(如何判斷有失控,各種失控模式的原因及相應的糾正措施,判斷準則與平均運行長度AR.)
.在線使用階段控制圖
.在線監控、反饋、問題分析和解決
.控制圖的更新
.抽樣方案的改變
.產品或過程的變更
.過程改善后
.其它計量型數據控制圖
.Xbar-S均值-標準差圖
.I-MR單值-移動極差圖
.Z-MR控制圖
.控制圖總結
.控制圖的類型和選用
.控制圖的常見誤區
.綜合練習
5.計量型數據過程能力分析(3小時)
.概念與原理
.過程能力分析的基本方法
.不劃分子組時的過程能力分析
.如何衡量過程均值的偏移程度
.設備能力指數Cmk
.綜合練習
6.計數型數據控制圖(1小時)
.不合格品率控制圖 – P圖
.P圖的概念和應用背景
.理論基礎(二項分布)
.控制限
.P圖的建立
.子組容量
.子組頻率
.失控判斷準則
.建立的步驟
.過程能力
.不合格品數控制圖 - NP圖
.應用背景(注重與P圖不同的適用情況)
.與P圖的區別
.其余同P圖
.NP圖示例
.單位缺陷數控制圖 – u圖
.概念和應用背景
.理論基礎(泊松分布)
.控制限
.u圖的建立
.過程能力
.缺陷數控制圖 – c圖
.概念和應用背景
.c圖的建立
.與u圖相同的部分
.與u圖不同的部分
.過程能力
.計數型數據控制圖的選用
.綜合練習
7.控制圖在持續改進中的應用(30分鐘)
.持續改進與統計過程控制介紹
.如何用控制(zhi)圖展現改善的效果
SPC課程培訓
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