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IPQC制程異常

課程大綱：
第一章：如何做過程預防性管理
1、產品質量怎么叫好——穩定
2、一張圖看看你公司的產品質量水平
3、——一個指標看你公司的質量管理水平
4、保持過程穩定(ding)的總(zong)體思路——預防

第二章：SPC和CPK運用
一、 統計過程控制概述
1、持續可信的品質——CPK
2、統計過程控制的起源與發展
3、SPC基本概念
4、過程控制原理
5、SPC的工具——控制圖
6、SPC的目標
7、SPC的應用及收益

二、 SPC統計基礎
1、現代質量管理學的統計觀點
2、概率與隨機現象
3、計量型數據和計數型數據
4、總體與樣本
5、統計量：均值、方差、標準差
6、正態分布——品管核心統計理論
7、用正態分布展示和評價過程
8、過程的位置和分布（離散度）
9、中心極限定理
10、3σ質量與6σ質量
11、六西格瑪（6σ）定義
12、PPM-西格瑪(ma)Z數-CPK質量度量換算

三、 變異知識
1、變異與波動
2、質量波動的因素分類--- 5M1E 
3、特殊原因和共同原因
4、統計控制狀態
5、局部問題和系統改進
6、波動、過程控制和(he)過程能力

四、 控制圖原理
1、控制圖樣式
2、兩類錯誤 
3、休哈特“3σ原則”
4、分析用控制圖和監控用控制圖
5、常規控制圖的分類
6、統計過程控制原則
7、控制圖 8條判異準則
8、如何選擇控制圖

五、 控制圖數據采集
1、為什么要收集數據
2、數據收集計劃
3、如何確定控制項目--關鍵質量特性
4、控制圖數據規模
5、采集控制圖數據的步驟
6、修哈特的“合理子組原則”
7、數據的分層問題
8、控制圖數據的時間序列特性
9、直方(fang)圖數據不(bu)能做控制圖

六、 計量型控制圖
1、Xbar-R圖 （均值-極差）
2、Xbar-s 圖 （均值-標準差）
3、中位數- R圖 （中位數-極差）
4、 X－MR 圖 （單值-移(yi)動極差）

七、 計數型控制圖
1、 P 圖 （不合格品率）
2、 np圖 （不合格品數）
3、 c 圖 （缺陷數）
4、 u 圖 （單位缺陷數(shu)）

八、 過程能力研究
1、過程能力研究的目的 
2、過程能力研究的步驟
3、過程能力的概念：過程能力指數CP和CPK 過程性能指數PP和PPK
4、過程短期能力研究與過程長期能力研究
6、過程能力改進:減少普通原因持續改進過程潛力減少特殊原因持續改進過程表現
7、能力指數計算流程
8、能力指數計算實例
9、過程能力指數研究時機
10、過程能力和過程性能指數計算前提條件
11、設備能力指數Cmk模型建立及計算
12、設備能力研究范圍
13、計算Cmk流程
14、Minitab計算Cmk

九   控制圖使用及策略
1、控制圖運用流程
2、控制圖界限的確定與發布
3、控制圖的記錄
4、對異常點的處置
5、不要混淆控制界限和規格界限
6、過程中心偏離目標的調整策略
7、控制界限的重新計算問題
8、用(yong)控制圖確認改善效果

十、其他控制圖介紹與應用
1、EWMA控制圖
2、累積數控制圖
3、工序(xu)預控(kong)制圖     

十一、MINITAB應用
1、Minitab界面及操作
2、控制圖執行路徑
3、控制圖數據輸入
4、控制圖生成方法
5、過程能力分析
6、用Z圖確認改善效果
7、控制圖打印制作

第三章：異常管控流程——變更
1、變更的目的
2、變更的范圍
3、變更的職責
4、變更的流程
5、變更狀態跟蹤
6、工程變更請求表
7、臨時(shi)替代流程

第四章：首件檢驗
1、首件檢驗的概念
2、首件檢驗的方法
3、作業準備的驗證
4、末件(jian)比(bi)較的(de)方法(fa)——一種(zhong)簡單有效的(de)方法(fa)介紹

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