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中國企業培訓講師
檢具設計GD&T
 
講師(shi):講師(shi)團 瀏(liu)覽次(ci)數:2671

課(ke)程描述INTRODUCTION

檢具設計課

· 工業工程師· 品質經理

培訓講師:講師團(tuan)    課程價格:¥元/人    培訓天數:2天(tian)   

日程安(an)排SCHEDULE

課程大綱Syllabus

檢具設計課

課程介紹
檢測的核心目標是模擬最嚴酷的裝配狀態,而檢具是服務于這一檢測思路的,同時檢具也是最便捷的檢測方法,被制造業廣泛采用,在ASME Y14.43、GBT 8069、GBT1957等標準中有詳細的講解。本課程內容包括:檢具的設計原理、驗證方法和應用,通止規設計,檢具定位裝夾設計,材料選擇和相關熱處理,檢具基準的確定,檢具公差分配的原理和規則,等等計量型檢具和功能性檢具的實現和應用。另外本課程詳細介紹了檢具公差分配對產品的質量和檢具制造成本的影響,如何正確的分配檢具的公差從而減少測量的風險,包括避免誤收和拒收的發生等等。
培訓對象
設計、質量和檢驗工程師,以及相關需要設計和使用檢具的人員。
培訓目標:
掌握計量型和功能型檢具設計原則;
學會GD&T公差的檢測思路。
學會分析檢測數據,正確填寫檢測報告。
學會合理(li)分配檢具公差的(de)方法。

課程大綱
第一模塊:檢測技術的基礎與基準

什么是檢測?模擬最嚴酷的裝配狀態
檢具功能和應用目的
控制機械形體:大小,位置,方向和形狀
檢具設計的基礎知識
公差規則
誤收、誤判
檢具材料
檢具基本類型和應用
計量型檢具
功能性檢具
影響選擇檢測的因素
檢測相關基準知識
相關基礎術語
形體
基準軸心線
基本尺寸 
檢測的相關基準及基準系
模擬/目標基準 
基準定位 3-2-1原則 
基準次序
實際包容體(AME)
實際局部尺寸(ALS)
不相關實際包容體(UAME)
相關實(shi)際包容體(RAME)

第二模塊:尺寸公差檢測技術
實體(FOS)尺寸
測量思路—兩點法
光滑極限量規國家標準GBT1957-2006
通止規
包容原則下對檢具的影響
精度對測量的影響
位置尺寸
建基準思路
劃線法、打表法,門檻規法
柔性零件測量思路與檢具
制造工藝對剛性零件測量的影響
門檻類位置檢具
標準樣件的作用和應用技巧
同一平面孔位測量
空間孔位測量
空間鏈狀孔位測量
精度對測量的影響
方向(xiang)和形狀(zhuang)尺寸(cun)檢測

第三模塊:幾何公差檢測和評價
幾何公差的等級劃分原理
跳測量理論
幾何公差檢測
直線度結合實體尺寸的公差帶識別
直線度測量方法
平面度公差帶識別
平面度打表檢具
平面度:三點,四點調平
鑄件表面平面度檢具——確定加工余量
圓度、圓柱度公差帶及評價標準
圓度測量治具
圓度儀等量具的應用
經典案例
方向度檢測
垂直度、平行度、傾斜度公差帶及評價標準
門檻類檢具降級使用 
芯棒的應用與計算
角度規和正炫規在傾斜度的應用
經典案例 
位置度檢測
位置度實體補償的檢具形成原理 
功能檢具思路——位置度檢具設計四劍式
孔組檢具——相對位置
基準不垂直對檢具的影響
經典案例:軸位置度檢具
經典案例:方孔/方槽位置度檢具
孔位置度無M圈的檢具設計
公差分配原則
.樂觀原則
.悲觀原則
.寬容原則
位置度基準實體補償的檢具形成原理
一面一銷基準的檢具
一面兩銷基準的檢具
位置度檢測
位置度實體補償的檢具形成原理 
功能檢具思路——位置度檢具設計四劍式
孔組檢具——相對位置
基準不垂直對檢具的影響
經典案例:軸位置度檢具
經典案例:方孔/方槽位置度檢具
孔位置度無M圈的檢具設計
公差分配原則
.樂觀原則
.悲觀原則
.寬容原則
位置度基準實體補償的檢具形成原理
一面一銷基準的檢具
一面兩銷基準的檢具
檢具設計流程——檢具圖生長法
.檢測銷
.導向部位
.定位銷
.檢具體
.夾緊機構
對稱度檢測
同軸度檢測
同軸度檢具
跳動度檢測
圓跳動、跳動公差帶
偏擺儀,圓度儀檢測
跳動與位置度公差帶的關系及檢測
輪廓度檢測
面、線輪廓 
不等雙邊輪廓度 
位置輪廓度檢具設計
方向輪廓度檢具設計
形狀輪廓度檢具設計
經典案例:線性尺寸惹得禍
計量性檢具:門檻檢具+標準件
管類零件檢測

第四模塊:復雜檢具
復合位置度檢測
復合位置度簡介
復合位置度檢具設計
.位置級別檢具
.方向級別——方向公差(平行,垂直,傾斜度)跳級的檢具設計
.形狀級別——形狀公差(平面度,直線度)跳級的檢具設計
復合輪廓度
復合輪廓度檢具設計
.位置級別檢具
.方向級別檢具設計
.形狀級別的檢具設計
復雜基準的檢具設計
相關實際包容體
基準不規則分布
一面兩銷基準結構
同時/分開要求原則的檢具設計
延伸公差帶的檢具設計
復雜管件(jian)的檢具設計

第五模塊:總結
檢具驗收和校準
通用檢具PK 功能檢具
優點,缺點
檢具設計的3個禁止
第一/二代公差系統的檢具對比
檢具設計思路總結
檢測思路總結

檢具設計課


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已開課時間Have start time

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