課(ke)程描述INTRODUCTION
日(ri)程(cheng)安排SCHEDULE
課(ke)程(cheng)大(da)綱Syllabus
EOS防護技術課程
課程大綱:
第一部分:EOS及ESD基礎知識
1.前言及EOS的歷史
2.簡介
3.對EOS的傳統看法
4.工業委員會全球調查介紹
5.什么是EOS
6.EOS的來源
6.1ESD
6.2電源
7.什么是靜電
8.靜電的產生原理(模擬試驗機演示)
9.什么是ESD
10.ESD與EOS的關系
11.EOS與ESD失效比較
12.EOS與ESD的常規區別
13.EOS主要類別
14.EOS根本原因
15.EOS根本原因診斷
16.案例1:錯誤的ESD資格導致EOS
17.案例(li)2:EOS被誤用(yong)
第二部分:EOS分析技術
1.常用術語和定義
2.工廠和現場的EOS損壞
3.顯示EOS損壞的故障的現場返回分析的動機
4.瞬變
5.用于收集EOS損壞數據的EOS調查
5.1調查表和描述-調查是如何進行的?
5.2EOS調查結果
5.3EOS故障原因進行歸類
5.4EOS故障通常發生在哪里?
5.5其他報告的EOS原因
5.6診斷、降低EOS的重要性和故障報告
5.7最小化EOS問題的最有效方法是什么?
5.8報告的前4個EOS根本原因和置信度
6.EOS損壞的影響
7.出現EOS損壞的產品的故障報告
8.EOS根本原因
9.無動力處理期間的EOS損壞
10.動力處理期間的EOS
10.1熱插拔相關
10.2系統級ESD相關EOS
11.案例3:熱插拔導致EOS
12.案例4:間歇性電池接地連接導致EOS
13.案例5:由于地面偏移(yi)導致的EOS
第三部分:電路EMI、EOS防護與靜電敏感元器件ESD、EOS的防護設計
1.微電子、電子電路的EMI、EOS問題
2.EMI、EOS涉及范圍
2.1EMI防護技術的主要內容
2.2EOS防護技術的內容
3.EMI、EOS對電子系統設備的干擾與微電子元器件的損害
3.1EMI對電子系統、微電子產生干擾和損害
3.2EOS對微電子的損害
4.ESD、EOS失效分析技術
4.1失效分析基本技術
4.2現代失效分析技術
5.EOS對電子系統、微電子元器件損害的防護
5.1電氣設備漏電及微電子電路過載的防護
5..2電氣系統、設備產生漏電原因及部位
5..3漏電源的修復
6.電子系統EMI的防護與抑制
6.1電感性負載的瞬態浪涌抑制
6.2電源電路的干擾抑制
6.3電路合理布局減小EMI影響
6.4電子系統接地EMI的抑制
7.金屬件接地的搭接
7.1搭接的類型
7.2搭接技術原則
8.案例6:EOS案例研究“汽車爆震傳感器”
9.案例7:EMI–瞬態浪涌
10.SSD產品的ESD、EOS防護設計
10.1SSD器件靜電敏感度與其設計結構的關系
10.2常用的靜電放電保護器件
10.3SSD器件防靜電保護網絡設計時需注意的問題
10.4采用SSD的混合集成電路的保護電路設計注意事項
10.5SSD組件保護電路設計的注意事項
10.6電子SSD產品的防ESD、EOS增強設計
10.7常用的幾種保護電路
10.8HCMOS(高速CMOS)輸入端的保護結構
11.案例8:EMI–電路板設計
12.導線、電纜傳輸線EMI、ESD耦合抑制
12.1雙股絞合線
12.2屏蔽線
12.3配線方法
第四部分:EOS案例分析
4.1案例9:電源電容器切換
4.2案例10:D*C中的CBE
4.3案例11:可靠性測試
4.4得到教訓
4.5EOS監控清單
第五部分:課堂練習
5.1.ESD/EOS問題點詳解
5.2.異常(chang)圖片(pian)大家來找茬
第六部分:答疑
6.1EOS相關疑難問題點解答
6.2.常(chang)見問題答疑
EOS防護技術課程
轉載://citymember.cn/gkk_detail/295835.html
已開(kai)課時間Have start time
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